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THICKNESS-INFORMATION ACQUISITION APPARATUS, THICKNESS-INFORMATION ACQUISITION METHOD, THICKNESS-INFORMATION ACQUISITION PROGRAM AND MICROSCOPE

机译:厚度信息获取装置,厚度信息获取方法,厚度信息获取程序和显微镜

摘要

A thickness-information acquisition apparatus includes: an image acquisition section configured to acquire a phase-difference image of a sample; a correlation-distribution computation section configured to compute a correlation distribution of an image in the phase-difference image with respect to pixels of another image in the phase-difference image; and a thickness-information acquisition section configured to acquire information on the thickness of the sample in accordance with the correlation distribution.
机译:厚度信息获取装置包括:图像获取部,其被配置为获取样本的相差​​图像;以及相关度分布计算部分,被配置为计算相差图像中的图像相对于相差图像中的另一图像的像素的相关性分布;厚度信息获取部分,其被配置为根据所述相关性分布获取关于所述样本的厚度的信息。

著录项

  • 公开/公告号US2011157348A1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TAKASHI YAMAMOTO;

    申请/专利号US20100970088

  • 发明设计人 TAKASHI YAMAMOTO;

    申请日2010-12-16

  • 分类号G06K9/68;G06K9/00;H04N7/18;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:12:53

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