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Methods of forming C4 round dimple metal stud bumps for fine pitch packaging applications and structures formed thereby

机译:形成用于精细间距封装应用的C4圆形凹痕金属柱形凸块的方法以及由此形成的结构

摘要

Methods of forming microelectronic device structures are described. Those methods may include forming a passivation layer on a substrate, wherein the substrate comprises an array of conductive structures, forming a first via in the passivation layer, forming a second via in the passivation layer that exposes at least one of the conductive structures in the array, and wherein the second via is formed within the first via space to form a step via, and forming a conductive material in the step via, wherein a round dimple is formed in the conductive material.
机译:描述了形成微电子器件结构的方法。那些方法可以包括在衬底上形成钝化层,其中衬底包括导电结构的阵列,在钝化层中形成第一通孔,在钝化层中形成第二通孔,该第二通孔暴露出衬底中的至少一个导电结构。阵列,其中第二通孔形成在第一通孔空间内以形成阶梯通孔,并在阶梯通孔中形成导电材料,其中圆形凹坑形成在导电材料中。

著录项

  • 公开/公告号US7952203B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHI-WON HWANG;

    申请/专利号US20080231167

  • 发明设计人 CHI-WON HWANG;

    申请日2008-08-29

  • 分类号H01L23/485;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:09:00

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