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Semiconductor memory device using a bandgap reference circuit and a reference voltage generator for operating under a low power supply voltage

机译:使用带隙基准电路和基准电压发生器以在低电源电压下工作的半导体存储器件

摘要

A semiconductor memory device includes a boosting power supply circuit that boosts a first voltage to a second voltage, which is higher than an external power supply. A first bandgap reference (BGR) circuit operates on the second voltage generated by the boosting power supply circuit. Thereby, the power supply circuit generates a voltage by using a bandgap reference circuit.
机译:半导体存储器件包括升压电源电路,该升压电源电路将第一电压升压至高于外部电源的第二电压。第一带隙基准(BGR)电路对由升压电源电路生成的第二电压进行操作。由此,电源电路通过使用带隙​​基准电路来产生电压。

著录项

  • 公开/公告号US7920439B2

    专利类型

  • 公开/公告日2011-04-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NORIYASU KUMAZAKI;

    申请/专利号US20070860779

  • 发明设计人 NORIYASU KUMAZAKI;

    申请日2007-09-25

  • 分类号G11C5/14;G05F3/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 18:07:43

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