首页> 外国专利> SCANNING MICROSCOPY, FLUORESCENCE DETECTION, AND LASER BEAM POSITIONING

SCANNING MICROSCOPY, FLUORESCENCE DETECTION, AND LASER BEAM POSITIONING

机译:扫描显微镜,荧光检测和激光束定位

摘要

A microscope scanner for detecting fluorescence where a laser beam (18) is projected through an inertia-less deflector (1) having a plurality of deflection control inputs (11X, 11Y) such that the laser beam output of the deflector is scannable across the surface of a sample for fluorescence microscopy.
机译:用于检测荧光的显微镜扫描仪,其中激光束(18)投射通过具有多个偏转控制输入(11X,11Y)的无惯性偏转器(1),从而偏转器的激光束输出可在整个表面上扫描荧光显微镜检查样品。

著录项

  • 公开/公告号EP1461602A4

    专利类型

  • 公开/公告日2011-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 OVERBECK JAMES W.;

    申请/专利号EP20020804062

  • 发明设计人 OVERBECK JAMES W.;

    申请日2002-11-25

  • 分类号G01N21/64;C12M1/34;G02B21/00;G02B21/16;G02B21/18;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 17:59:36

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号