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n-ZnO/p-GaAs heterojunction photodiode and fabrication method

机译:n-ZnO / p-GaAs异质结光电二极管及其制造方法

摘要

The present invention provides a p-type gallium arsenide layer serving as a substrate, an n-type ZnO layer formed on the p-type gallium arsenide layer as a detector of a UV-visible region, and an ohmic contact n-type formed on one side of the n-type ZnO layer. N-ZnO / p-GaAs comprising a metal, an ohmic contact p-type metal formed under the p-type gallium arsenide layer, and a silicon nitride insulating layer formed on the n-type ZnO layer as a light-transmitting layer of received light Provided is a heterojunction photodiode.
机译:本发明提供了用作衬底的p型砷化镓层,在p型砷化镓层上形成的n型ZnO层作为紫外线可见区域的检测器,以及在其上形成的欧姆接触n型。 n型ZnO层的一侧。 N-ZnO / p-GaAs,包括金属,在p型砷化镓层下形成的欧姆接触p型金属以及在n型ZnO层上形成的氮化硅绝缘层作为受光层提供的是异质结光电二极管。

著录项

  • 公开/公告号KR101039997B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-06-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20040014064

  • 发明设计人 이광철;

    申请日2004-03-02

  • 分类号H01L31/10;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:50:11

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