首页> 外国专利> Position specific manner in the deformation map, the position specific system in the deformation map, through the position specific manner in the measurement map, and the position specific system null

Position specific manner in the deformation map, the position specific system in the deformation map, through the position specific manner in the measurement map, and the position specific system null

机译:变形图中的位置特定方式,变形图中的位置特定系统,通过测量图中的位置特定方式以及位置特定系统为null

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide coordinate information of a measurement map on a deformation map by making both control point coordinates of the measurement map and of the deformation map mutually convertible.;SOLUTION: The position specifying method for deformation map includes a step for receiving a first coordinate information of a mobile terminal (20) from the mobile terminal (20); a step extracting a first control point of a measurement map near first coordinate information from the measurement map; a step for selecting a second control point of a deformation map, corresponding to the first control point from the deformation map: and a step for calculating second coordinate information of mobile terminal on the deformation map, by calculating interpolation from first coordinate information, the first control point and the second control point.;COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
机译:解决的问题:通过使测量图的控制点坐标和变形图的控制点坐标可相互转换来在变形图上提供测量图的坐标信息。;解决方案:变形图的位置指定方法包括以下步骤:来自移动终端(20)的移动终端(20)的第一坐标信息;从测量图提取靠近第一坐标信息的测量图的第一控制点的步骤;从变形图选择与第一控制点相对应的变形图的第二控制点的步骤;以及通过根据第一坐标信息计算插值来计算移动终端在变形图上的第二坐标信息的步骤,控制点和第二个控制点。;版权:(C)2008,JPO&INPIT

著录项

  • 公开/公告号JP4859699B2

    专利类型

  • 公开/公告日2012-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ヤフー株式会社;

    申请/专利号JP20070027876

  • 发明设计人 西村 定夫;

    申请日2007-02-07

  • 分类号G01C21/26;G09B29/10;G06T11/60;G06F3/048;G06F3/14;G01C21;G09B29;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 17:37:04

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