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机译:椭圆偏振镜系统,用于测量双折射介质的光学特性
公开/公告号PL211472B1
专利类型
公开/公告日2012-05-31
原文格式PDF
申请/专利权人 POLITECHNIKA WROCŁAWSKA;
申请/专利号PL20080385371
发明设计人 KURZYNOWSKI PIOTR;WOZACUTE;NIAK WLSTROK;ADYSLSTROK;AW ARTUR;
申请日2008-06-05
分类号G01J4/00;G01N21/21;
国家 PL
入库时间 2022-08-21 17:23:16
机译: 椭圆偏振镜系统,用于测量双折射介质的光学特性
机译: 非二色性双折射介质的光学特性的测定方法和椭圆偏振镜系统