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光学特性测量装置、光纤传感器系统及光学特性的测量方法

摘要

本发明涉及利用解调光纤的光学特性测量系统,其特征在于,包括:光源部,用于射出特定波长的输入光;感测部,通过根据外部环境条件使光特性受到影响的传感器来产生上述信号光;以及测量部,通过由上述感测部传输的信号光来导出变化的物理量,上述测量部包括:光耦合器,用于向两个光路分配上述信号光;以及解调光纤,设置于使上述信号光移动的一侧光路,上述解调光纤在特定波长范围内呈现线性的光吸收特性,通过上述信号光的光强度检测来检测从上述感测部传输的信号光的波长,由此最终导出从外出施加的物理量。

著录项

  • 公开/公告号CN106415220B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 光州科学技术院;

    申请/专利号CN201580034103.2

  • 发明设计人 金福炫;金坰沅;姜埙秀;

    申请日2015-06-23

  • 分类号G01J1/04(20060101);

  • 代理机构11283 北京润平知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗攀;肖冰滨

  • 地址 韩国光州

  • 入库时间 2022-08-23 10:25:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-29

    授权

    授权

  • 2017-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/04 申请日:20150623

    实质审查的生效

  • 2017-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/04 申请日:20150623

    实质审查的生效

  • 2017-02-15

    公开

    公开

  • 2017-02-15

    公开

    公开

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