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Method of implanting p-type ion impurities in dual poly-gate and method of fabricating dual poly gate using the same

机译:在双多晶硅栅中注入p型离子杂质的方法和使用该方法制造双多晶硅栅的方法

摘要

The p-type impurity ion implantation method of the dual poly-gate of the present invention includes a first doping step of doping a p-type impurity ion with a first energy to a polysilicon film formed on a substrate via a gate insulating film, and a polysilicon film A second doping step of doping the p-type impurity ion with a variable energy whose energy is changed from the first energy to the second energy, and a third doping step of doping the p-type impurity ion with the second energy with respect to the polysilicon film. Include.;Dual Polygate, Boron Penetration, Polydiffusion Rate (PDR), Plasma Doping
机译:本发明的双多晶硅栅极的p型杂质离子注入方法包括第一掺杂步骤,该第一掺杂步骤将具有第一能量的p型杂质离子经由栅极绝缘膜掺杂到在基板上形成的多晶硅膜上,以及多晶硅膜的第二掺杂步骤,用能量从第一能量改变为第二能量的可变能量掺杂p型杂质离子,第三掺杂步骤,用第二能量掺杂p型杂质离子。关于多晶硅膜。包括;双多晶硅栅极,硼渗透,多扩散速率(PDR),等离子体掺杂

著录项

  • 公开/公告号KR101096251B1

    专利类型

  • 公开/公告日2011-12-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20090053067

  • 发明设计人 노경봉;

    申请日2009-06-15

  • 分类号H01L21/265;H01L21/336;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:10:56

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