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ARRAY TEST DEVICE CAPABLE OF PREVENTING A WORKER FROM EASILY FEELING FATUGUE AND AN ARRAY TEST METHOD

机译:能够防止工人感到容易疲劳的阵列测试装置和阵列测试方法

摘要

PURPOSE: An array test device and an array test method are provided to enable a worker to easily align a probe pin and an electrode by an image photographed by a photographing unit.;CONSTITUTION: A probe module includes a probe head(140) and a probe bar(160). The probe bar is placed in the probe head. An align mark(161) is formed in the probe bar. A photographing unit(300) photographs the align mark and an electrode(750). The electrode is formed on a substrate(700). A test module detects a defect of the substrate.;COPYRIGHT KIPO 2012
机译:目的:提供一种阵列测试设备和一种阵列测试方法,以使工人能够通过拍摄单元拍摄的图像轻松对准探针和电极。;组成:一种探针模块包括一个探针头(140)和一个探针棒(160)。探针棒放置在探针头中。在探针条上形成对准标记(161)。拍摄单元(300)拍摄对准标记和电极(750)。电极形成在基板(700)上。测试模块可检测到基材的缺陷。; COPYRIGHT KIPO 2012

著录项

  • 公开/公告号KR20120013613A

    专利类型

  • 公开/公告日2012-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOP ENGINEERING CO. LTD.;

    申请/专利号KR20100075691

  • 发明设计人 BAN JUN HO;

    申请日2010-08-05

  • 分类号G02F1/13;G01R1/073;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:10:39

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