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Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian

召开年：1999
召开地：Shanghai
出版时间：-

会议文集：-

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1.Fault-tolerant analysis of feedback neural networks with threshold neurons

机译：具有阈值神经元的反馈神经网络的容错分析
- 作者：Tao Zhang;Dongcheng Hu
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
2.How to design an environment simulator for safety critical software testing

机译：如何设计用于安全关键软件测试的环境模拟器
- 作者：Haiying Tu;Fangmei Wu
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
3.Investigation of Ga contamination due to analysis by dual beam FIB

机译：通过双束FIB分析调查Ga污染
- 作者：Sakata T.;Ogiwara T.;Takahashi H.;Sekine T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
4.A fault partitioning method in parallel test generation for large scale VLSI circuits

机译：大规模VLSI电路并行测试生成中的故障划分方法
- 作者：Zhide Zeng;Jihua Chen
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
5.A novel testing approach for safety-critical software

机译：安全关键软件的新颖测试方法
- 作者：Zhongwei Xu;Fangmei Wu
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
6.Accelerating test data processing

机译：加速测试数据处理
- 作者：Demidenko S.;Lever K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
7.On compact test sets for multiple stuck-at faults for large circuits

机译：用于大型电路的多个卡死故障的紧凑型测试仪
- 作者：Kajihara;S.;Murakami;A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
8.Research and implementation of a high speed test generation for ultra large scale combinational circuits

机译：超大规模组合电路高速测试生成的研究与实现
- 作者：Zhide Zeng;Jihua Chen
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
9.Scan chain diagnosis using IDDQ current measurement

机译：使用IDDQ电流测量进行扫描链诊断
- 作者：Hirase J.;Shindou N.;Akahori K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
10.An evaluation of test generation algorithms for combinational circuits

机译：组合电路测试生成算法的评估
- 作者：Shiyi Xu;Frank;T.J.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
11.Automatic test pattern generation for improving the fault coverage of microprocessors

机译：自动生成测试图案，以改善微处理器的故障范围
- 作者：Hirase;J.;Yoshimura;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
12.Fault (in)dependent cost estimates and conflict-directed backtracking to guide sequential circuit test generation

机译：与故障无关的成本估算和基于冲突的回溯，以指导顺序电路测试的产生
- 作者：Konijnenburg;M.;van der Linden;H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
13.Practical application of automated fault diagnosis for stuck-at, bridging, and measurement condition dependent faults in fully scanned sequential circuits

机译：自动故障诊断在完全扫描顺序电路中卡住，桥接和测量条件相关的故障的实际应用
- 作者：Shimoda;R.;Yoshida;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
14.Defining SRAM resistive defects and their simulation stimuli

机译：定义SRAM电阻缺陷及其仿真激励
- 作者：van de Goor A.J.;Simonse J.E.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
15.March tests for word-oriented two-port memories

机译：3月测试面向单词的两端口内存
- 作者：Hamdioui S.;van de Goor A.J.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
16.A method of test generation for weakly testable data paths using test knowledge extracted from RTL description

机译：一种使用从RTL描述中提取的测试知识来为可弱测试的数据路径生成测试的方法
- 作者：Ohtake;S.;Inoue;M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
17.Static and dynamic test sequence compaction methods for acyclic sequential circuits using a time expansion model

机译：使用时间扩展模型的非循环时序电路的静态和动态测试序列压缩方法
- 作者：Hosokawa;T.;Inoue;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
18.An accurate logic threshold voltages determination model for CMOS gates to facilitate test generation and fault simulation

机译：CMOS门的准确逻辑阈值电压确定模型，以促进测试生成和故障仿真
- 作者：Jing-Jou Tang
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
19.An approach to testing the nonexistence of initial state in Z specifications

机译：一种测试Z规范中不存在初始状态的方法
- 作者：Miao Huaikou;Gao Xiaolei
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
20.An effective methodology for mixed scan and reset design based on test generation and structure of sequential circuits

机译：一种基于测试生成和时序电路结构的有效的混合扫描和复位设计方法
- 作者：Hsing-Chung Liang;Chung Len Lee
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
21.An embedded core DFT scheme to obtain highly compressed test sets

机译：嵌入式核心DFT方案可获取高度压缩的测试集
- 作者：Jas A.;Mohanram K.;Touba N.A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
22.An input control technique for power reduction in scan circuits during test application

机译：一种在测试应用过程中降低扫描电路功耗的输入控制技术
- 作者：Tsung-Chu Huang;Kuen-Jeng Lee
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
23.Analog metrology and stimulus selection in a noisy environment

机译：嘈杂环境中的模拟计量和激励选择
- 作者：Chauchin Su;Yue-Tsang Chen;Chung-Len Lee
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
24.Circuit partitioning for low power BIST design with minimized peak power consumption

机译：用于低功耗BIST设计的电路分区，具有最小的峰值功耗
- 作者：Girard;P.;Guiller;L.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
25.Defect level prediction using multi-model fault coverage

机译：使用多模型故障覆盖率进行缺陷水平预测
- 作者：Shyue-Kung Lu;Tsung-Ying Lee;Cheng-Wen Wu
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
26.Easily path delay fault testable non-restoring cellular array dividers

机译：容易进行路径延迟故障测试的不可恢复蜂窝阵列分频器
- 作者：Sidiropoulos;G.;Vergos;H.T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
27.Efficient test set design for analog and mixed-signal circuits and systems

机译：用于模拟和混合信号电路和系统的高效测试仪设计
- 作者：Sam Huynh;Jinyan Zhang
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
28.Failure analysis case studies using the IR-OBIRCH (infrared optical beam induced resistance change) method

机译：使用IR-OBIRCH（红外光束感应电阻变化）方法进行故障分析案例研究
- 作者：Nikawa;K.;Inoue;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
29.Fault simulation techniques to reduce IDDQ measurement vectors for sequential circuits

机译：故障仿真技术可减少顺序电路的IDDQ测量向量
- 作者：Higami;Y.;Takamatsu;Y.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
30.Generating test cases for real-time software by time Petri nets model

机译：通过时间Petri网模型生成实时软件的测试用例
- 作者：Ho;I.;Jin-Chern Lin
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
31.Genetic algorithm based test generation for sequential circuits

机译：基于遗传算法的时序电路测试生成
- 作者：Li Shen
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
32.High resolution CD-SEM system

机译：高分辨率CD-SEM系统
- 作者：Ose Y.;Ezumi M.;Todokoro H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
33.I/sub DDQ/ current dependency on test vectors and bridging resistance

机译：I / sub DDQ /电流对测试向量的依赖性和桥接电阻
- 作者：Keshk;A.;Miura;Y.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
34.I/sub DDQ/ testing of input/output resources of SRAM-based FPGAs

机译：I / sub DDQ /测试基于SRAM的FPGA的输入/输出资源
- 作者：Lan Zhao;Walker;D.M.H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
35.Identification of feedback bridging faults with oscillation

机译：识别具有振荡的反馈桥接故障
- 作者：Hashizume M.;Yotsuyanagi H.;Tamesada T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
36.Identification of redundant crosspoint faults in sequential PLAs with fault-free hardware reset

机译：通过无故障硬件复位识别顺序PLA中的冗余交叉点故障
- 作者：Yamada;T.;Kotake;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
37.Intelligent EB test system for automatic VLSI fault tracing

机译：用于自动VLSI故障跟踪的智能EB测试系统
- 作者：Miura K.;Nakamae K.;Fujioka H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
38.Minimizing the number of programming steps for diagnosis of interconnect faults in FPGAs

机译：减少用于诊断FPGA中互连故障的编程步骤
- 作者：Yinlei Yu;Jian Xu
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
39.Minimizing the number of test configurations for different FPGA families

机译：减少不同FPGA系列的测试配置数量
- 作者：Renovell;M.;Portal;J.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
40.Multiple fault diagnosis in logic circuits using EB tester and multiple/single fault simulators

机译：使用EB测试仪和多个/单个故障模拟器进行逻辑电路中的多个故障诊断
- 作者：Takahashi;H.;Boateng;K.O.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
41.New DFT techniques of non-scan sequential circuits with complete fault efficiency

机译：具有完全故障效率的非扫描时序电路的新DFT技术
- 作者：Das;D.K.;Ohtake;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
42.A BIST TPG approach for interconnect testing with the IEEE 1149.1 STD

机译：与IEEE 1149.1 STD进行互连测试的BIST TPG方法
- 作者：Feng;W.;Huang;W.K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
43.A high-level synthesis approach to partial scan design based on acyclic structure

机译：基于非循环结构的部分扫描设计高级综合方法
- 作者：Takasaki;T.;Inoue;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
44.A new algorithm for retiming-based partial scan

机译：基于重定时的部分扫描的新算法
- 作者：Zulan Huang;Yizheng Ye;Zhigang Mao
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
45.A novel fault-detection technique for the parallel multipliers and dividers

机译：并行乘法器和除法器的新型故障检测技术
- 作者：Arjhan;C.;Deshmukh;R.G.
- 会议名称：《》 | 1999年
46.A parallel generation system of compact IDDQ test sets for large combinational circuits

机译：用于大型组合电路的紧凑型IDDQ测试装置的并行生成系统
- 作者：Shinogi;T.;Hayashi;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
47.A polynomial-time algorithm for power constrained testing of core based systems

机译：基于核的系统的功率受限测试的多项式时间算法
- 作者：Ravikumar;C.P.;Verma;A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
48.A simplified method for testing the IBM pipeline partial-scan microprocessor

机译：一种测试IBM管道部分扫描微处理器的简化方法
- 作者：Xinghao Chen;Snethen;T.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
49.Activation function manipulation for fault tolerant feedforward neural networks

机译：容错前馈神经网络的激活函数操纵
- 作者：Taniguchi;Y.;Kamiura;N.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
50.On an effective selection of IDDQ measurement vectors for sequential circuits

机译：关于顺序电路的IDDQ测量向量的有效选择
- 作者：Ichihara;H.;Kinoshita;K.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
51.Optimized statistical analog fault simulation

机译：优化的统计模拟故障仿真
- 作者：Khouas A.;Dessouky M.;Derieux A.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
52.Pattern sensitivity: a property to guide test generation for combinational circuits

机译：模式灵敏度：一种指导组合电路测试生成的属性
- 作者：Pomeranz;I.;Reddy;S.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
53.Procedure to overcome the Byzantine General's problem for bridging faults in CMOS circuits

机译：克服拜占庭将军弥合CMOS电路故障的问题的程序
- 作者：Keshk;A.;Miura;Y.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
54.Scenario based integration testing for object-oriented software development

机译：基于场景的集成测试，用于面向对象的软件开发
- 作者：Youngchul Kim;Carlson;C.R.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
55.Test by distributed monitoring

机译：通过分布式监控进行测试
- 作者：Chenglian Peng;Baifeng Wu;Xiaoguang Sun
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
56.Test scheduling with loop folding and its application to test configurations with accumulators

机译：带循环折叠的测试调度及其在累加器测试配置中的应用
- 作者：Stroele;A.P.;Mayer;F.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
57.Testing the logic cells and interconnect resources for FPGAs

机译：测试FPGA的逻辑单元和互连资源
- 作者：Doumar A.;Ito H.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
58.Vector-based functional fault models for delay faults

机译：基于矢量的时延故障功能故障模型
- 作者：Pomeranz I.;Reddy S.M.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
59.Fault-tolerant strategies and their design methods for application software

机译：应用软件的容错策略及其设计方法
- 作者：Jianhua Gao;Shoa;S.
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年
60.Railway signaling safety-critical software testing based on dynamic decision table

机译：基于动态决策表的铁路信号安全关键软件测试
- 作者：Fangmei Wu;Meng Li
- 会议名称：《Test Symposium, 1999. (ATS '99) Proceedings. Eighth Asian》 | 1999年