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PREPARING METHOD OF DOUBLE LAYERED CONNECTION STRUCTURE OF PROBE UNIT FOR INSPECTION OF FLAT DISPLAY PANEL AND DOUBLE LAYERED CONNECTION STRUCTURE USING THE SAME

机译:用于平板显示面板检查的探针单元的双层连接结构的制备方法以及使用该方法的双层连接结构的制备方法

摘要

PURPOSE: A method for forming a multi layered connecting structure of a probe unit for inspecting a flat display panel and the multi layered connecting structure made by the same are provided to increase efficiency of a production process of a connecting structure. CONSTITUTION: A plurality of signal lines(31,32,33) is formed on a substrate. A short line short-circuits intervals among partial signal lines. An insulation photo resist layer(40) insulates a part except the short circuit part between a signal line and a short line.
机译:目的:提供一种用于形成用于检查平面显示面板的探针单元的多层连接结构的方法以及由其制成的多层连接结构,以提高连接结构的生产工艺的效率。组成:多条信号线(31、32、33)形成在基板上。短线使部分信号线之间的间隔短路。绝缘光致抗蚀剂层(40)使除信号线和短路线之间的短路部分以外的部分绝缘。

著录项

  • 公开/公告号KR101104903B1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20090078352

  • 发明设计人 서수정;김윤식;김정태;

    申请日2009-08-24

  • 分类号G01R1/067;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:08:45

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