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Method of doping p-type impurity ions in dual poly gate and forming the dual poly gate using the same

机译:在双多晶硅栅中掺杂p型杂质离子并使用该方法形成双多晶硅栅的方法

摘要

to form p-type impurity -doped poly gate of the dual method of the invention is via a gate insulating film on the substrate , and , the step of exposing the n-type impurity ions are doped polysilicon film p-type region , a p-type impurity ions into the polysilicon film of the exposed p-type doped region and the step of using an ion implant method , and exposed a p-type impurity ions into the polysilicon film of the p-type doped region comprises the step of using the plasma doping method .
机译:通过衬底上的栅极绝缘膜形成本发明的双重方法的p型杂质掺杂的多晶硅栅极,并且,在暴露n型杂质离子的步骤中掺杂多晶硅膜的p型区域,型杂质离子进入暴露的p型掺杂区的多晶硅膜中和使用离子注入法的步骤,以及将p型杂质离子暴露到p型掺杂区的多晶硅膜中的步骤包括以下步骤:等离子体掺杂法。

著录项

  • 公开/公告号KR101185987B1

    专利类型

  • 公开/公告日2012-09-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20090053063

  • 发明设计人 이승미;노경봉;

    申请日2009-06-15

  • 分类号H01L21/336;H01L21/265;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 17:07:28

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