机译:校准互补金属氧化物半导体图像传感器的方法,涉及从至少两个像素图像确定特定像素的平均值,其中在确定过程中不包括其他图像的平均值
公开/公告号DE102011006507A1
专利类型
公开/公告日2012-05-10
原文格式PDF
申请/专利权人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT;
申请/专利号DE20111006507
发明设计人 STOWASSER BORIS;
申请日2011-03-31
分类号H04N5/325;H04N5/232;G06T1;
国家 DE
入库时间 2022-08-21 17:05:05