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APPARATUS, METHOD, AND TALBOT INTERFEROMETER FOR CALCULATING ABERRATION OF TEST OPTICAL SYSTEM

机译:用于计算测试光学系统像差的装置,方法和TALBOT干涉仪

摘要

A calculation apparatus acquires image data of interference fringes detected by using a Talbot interferometer including a diffraction grating and a detector, retrieves a first wavefront by using the image data of the interference fringe, sets a value of a second wavefront incident on the diffraction grating, calculates an interference fringe image of a plurality of the diffracted light beams through simulation, and retrieves a third wavefront by using the calculated interference fringe image, wherein the third wavefront is retrieved by changing a position of the diffraction grating in a plane perpendicular to an optical axis of the Talbot interferometer, and aberration of a test optical system is calculated by reducing an error included in the first wavefront by using the second wavefront and the third wavefront.
机译:计算设备获取通过使用包括衍射光栅和检测器的Talbot干涉仪检测到的干涉条纹的图像数据,通过使用干涉条纹的图像数据来获取第一波前,设置入射在衍射光栅上的第二波前的值,通过仿真计算多个衍射光束的干涉条纹图像,并使用计算出的干涉条纹图像检索第三波阵面,其中通过改变衍射光栅在垂直于光学系统的平面中的位置来检索第三波阵面通过使用第二波阵面和第三波阵面来减小第一波阵面中包括的误差,从而计算出测试光学系统的像差。

著录项

  • 公开/公告号US2013157202A1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-06-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CANON KABUSHIKI KAISHA;

    申请/专利号US201213712502

  • 发明设计人 NAOKI KOHARA;

    申请日2012-12-12

  • 分类号G01B9/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:51:44

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