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数字相移横向剪切干涉仪及光学系统波像差测量方法

摘要

一种数字相移横向剪切干涉仪及光学系统波像差测量方法,该干涉仪由光源、小孔掩模、第一空间光调制器、第二空间光调制器、二维光电探测器及计算机组成,通过计算机编程将第一空间光调制器设置为光栅,作为剪切分光器件,将第二空间光调制器设置为双窗口掩模,作为滤波器件,滤除0级与2级以上高级衍射光,使参与干涉的仅有+1级和-1级衍射光。本发明解决了高级衍射光参与干涉问题的同时,具有不需要更换或旋转任何器件实现剪切方向可变、剪切率可调的优点,系统更灵活。

著录项

  • 公开/公告号CN104807548A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201510216017.5

  • 发明设计人 戴凤钊;王向朝;唐锋;

    申请日2015-04-30

  • 分类号G01J9/02(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯;张宁展

  • 地址 201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2023-12-18 10:12:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J9/02 申请公布日:20150729 申请日:20150430

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-08-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J9/02 申请日:20150430

    实质审查的生效

  • 2015-07-29

    公开

    公开

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