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S and M for analyzing and assessing depression and other mood disorders using electoencephalograhic (EEG) measurements

机译:S和M用于通过电子脑电(EEG)测量分析和评估抑郁症和其他情绪障碍

摘要

This invention is directed to systems and methods for analyzing depression, and more particularly relates to systems and methods for analyzing and assessing depression and mood disorders in an individual using electroencephalographic measurements. Embodiments of the invention are not limited to depression, but can also include other mood disorders such as bipolar disorder and other disorders with at least one genetic-related component.
机译:本发明涉及用于分析抑郁症的系统和方法,并且更具体地涉及用于使用脑电图测量来分析和评估个体中的抑郁症和情绪障碍的系统和方法。本发明的实施方案不限于抑郁症,还可以包括其他情绪障碍,例如双相情感障碍和具有至少一种遗传相关成分的其他障碍。

著录项

  • 公开/公告号US8509885B2

    专利类型

  • 公开/公告日2013-08-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEBA HEALTH LLC;

    申请/专利号US201213627382

  • 发明设计人 STEVEN M. SNYDER;JAMES D. FALK;

    申请日2012-09-26

  • 分类号A61B5/0476;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:48:03

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