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机译：用于样品中分析物选择性检测的纳米传感器和方法。
公开/公告号NL2007328C2
专利类型
公开/公告日2013-03-04
原文格式PDF
申请/专利权人 TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT;
申请/专利号NL20112007328
发明设计人 VLAMINCK IWIJN;PLESA CALIN;DEKKER CEES;
申请日2011-09-01
分类号B82Y15;G01N33/487;
国家 NL
入库时间 2022-08-21 16:40:38
机译： 用于样品中分析物选择性检测的纳米传感器和方法。
机译： 优化传感器对一种或多种分析物的灵敏度和/或选择性的方法，形成一种或多种分析物的传感器的方法，一种或多种分析物的检测试剂盒，鉴定适体的方法，物质和适体的组成。
机译： 使用共振传感器电路的选择性分析物检测的传感器系统和方法
