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MASK FOR MULTICOLUMN ELECTRON BEAM EXPOSURE, ELECTRON BEAM EXPOSURE DEVICE AND EXPOSURE METHOD EMPLOYING MASK FOR MULTICOLUMN ELECTRON BEAM EXPOSURE

机译:多柱电子束曝光的掩模,电子束曝光设备以及采用多柱电子束曝光的掩模的曝光方法

摘要

A mask for exposure, which is used in a multi-column electron beam exposure apparatus having multiple column cells, includes a stencil pattern group constituted by multiple stencil patterns for each of the multiple column cells. The stencil pattern groups are arranged at intervals corresponding to arrangement intervals of the multiple column cells, and all of the stencil pattern groups are formed on a single mask substrate. The stencil pattern groups include: a first stencil pattern group formed within a deflectable range of an electron beam of each of the multiple column cells; and a second stencil pattern group having two or more of the first stencil patterns.
机译:在具有多个列单元的多列电子束曝光设备中使用的用于曝光的掩模包括由多个列单元中的每一个的多个模板图案构成的模板图案组。模板图案组以与多个列单元的布置间隔相对应的间隔布置,并且所有模板图案组形成在单个掩模基板上。模板图案组包括:在多个列单元的每一个的电子束的可偏转范围内形成的第一模板图案组;和第二模板图案组具有两个或更多个第一模板图案。

著录项

  • 公开/公告号EP2117035A4

    专利类型

  • 公开/公告日2013-09-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANTEST CORPORATION;

    申请/专利号EP20070737688

  • 发明设计人 YABE TAKAYUKI;TANAKA HITOSHI;YAMADA AKIO;

    申请日2007-03-02

  • 分类号H01L21/027;B82Y10/00;B82Y40/00;G03F1/20;H01J37/317;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 16:34:33

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