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METHOD FOR PROGRAMMING A NONVOLATILE MEMORY DEVICE CAPABLE OF SHORTENING PROGRAMMING TIME

机译:用于编程能够缩短编程时间的非易失性存储器的方法

摘要

PURPOSE: A method for programming a nonvolatile memory device is provided to improve all program distributions by compositively applying a dual pulse program and two-step verification to memory cells.;CONSTITUTION: A first voltage pulse(211) is applied to a word line of a memory cell. It is verified whether a threshold voltage of the memory cell is changed. A second voltage pulse(221) with a threshold voltage over a reference level is applied to the word line of the memory cell and is lower than the first voltage pulse.;COPYRIGHT KIPO 2013
机译:目的:提供一种用于对非易失性存储器件进行编程的方法,以通过将双脉冲编程和对存储单元进行两步验证的方法来改善所有程序的分布;组成:将第一电压脉冲(211)施加到非易失性存储器件的字线上一个存储单元。验证存储单元的阈值电压是否改变。具有高于参考电平的阈值电压的第二电压脉冲(221)被施加到存储单元的字线,并且低于第一电压脉冲。; COPYRIGHT KIPO 2013

著录项

  • 公开/公告号KR20130016619A

    专利类型

  • 公开/公告日2013-02-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SAMSUNG ELECTRONICS CO. LTD.;

    申请/专利号KR20110078654

  • 发明设计人 LEE JI SANG;

    申请日2011-08-08

  • 分类号G11C16/12;G11C16/34;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:27:41

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