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Cu-Mn ALLOY SPUTTERING TARGET MATERIAL, THIN FILM TRANSISTOR WIRE AND THIN FILM TRANSISTOR USING THE SAME

机译:铜锰合金溅射靶材,薄膜晶体管电线和薄膜晶体管

摘要

PURPOSE: A Cu-Mn alloy sputtering target material, a thin film transistor wire and a thin film transistor using the same are provided to secure high operation by using amorphous silicon semiconductor. CONSTITUTION: A Cu-Mn alloy sputtering target(10) includes Mn of 8-30 atom%. The average grain size of Cu-Mn alloy is 10-50 Mm. A stack structure is formed on a substrate. The stack structure includes a Cu-Mn alloy film and a Cu film.
机译:目的:提供一种Cu-Mn合金溅射靶材,薄膜晶体管线和使用该靶材的薄膜晶体管,以通过使用非晶硅半导体确保高操作性。组成:一种Cu-Mn合金溅射靶(10),其Mn含量为8-30原子%。 Cu-Mn合金的平均晶粒尺寸为10-50mm。堆叠结构形成在基板上。堆叠结构包括Cu-Mn合金膜和Cu膜。

著录项

  • 公开/公告号KR101323151B1

    专利类型

  • 公开/公告日2013-10-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号KR20120026338

  • 申请日2012-03-15

  • 分类号H01L21/203;H01L29/786;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 16:24:16

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