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Power supply circuit analysis apparatus, power supply circuit analysis program, and power supply circuit analysis method

机译:电源电路分析装置,电源电路分析程序和电源电路分析方法

摘要

A power circuit analysis apparatus includes a segmentation unit that segments an analysis target region in a power circuit included in an analysis target circuit into a plurality of segmented regions, and an analysis unit that outputs an analysis result of the power circuit with respect to each of the plurality of segmented regions on a basis of a consumption current value in the segmented region and a number of via holes formed in each interlayer connecting power line wirings in upper and lower layers to each other in the segmented region.
机译:电源电路分析装置包括:分割单元,其将包括在分析目标电路中的电源电路中的分析目标区域分割为多个分割区域;以及分析单元,其针对每个输出输出电源电路的分析结果。基于分割区域中的消耗电流值和在分割区域中的上层和下层中的将电源线布线彼此连接的每个层间中形成的通孔的数量,来确定多个分割区域。

著录项

  • 公开/公告号JP5471872B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号JP20100139119

  • 发明设计人 寺部 未来;天野 靖雄;

    申请日2010-06-18

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 16:13:48

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