机译:作为利用投影仪的上述投影光学系统的上述投影方式的位置或倾斜度的测定方法,该投影仪具有投影显示该投影机的投影方式的位置的图像光的投影光学系统。执行图像处理方法的光学系统及其图像处理
要解决的问题:提供一种通过使用投影光学系统的投影光来轻松,精确地测量要投影的对象的技术。解决方案:投影仪100的投影光学系统150将包括测量线LM1的用于测量的图案图像MI投影到投影屏SC上。图像拾取部180拍摄投影的测量投影图像MIp。摄像测量线检测部121从摄影图像SI中检测与测量线LM1对应的摄像图像测量线LM1s。投影测量线检测部分122从拾取的图像测量线LM1获得投影屏幕SC上的投影测量线LM1p,并确定投影表面的位置和倾斜角。投影测量线LM1p作为由代表测量线LM1的光束限定的虚拟平面PA与由图像拾取部180的主点PP和图像拾取测量线LM1s限定的虚拟平面SA的交点而获得。
版权:(C)2010,日本特许厅&INPIT
公开/公告号JP5540493B2
专利类型
公开/公告日2014-07-02
原文格式PDF
申请/专利权人 セイコーエプソン株式会社;
申请/专利号JP20080279287
发明设计人 古井 志紀;
申请日2008-10-30
分类号H04N5/74;G03B21;G09G5;
国家 JP
入库时间 2022-08-21 16:13:10