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Standard cell placement method to exercise placement permutations of standard cell libraries

机译:使用标准单元格放置方法来练习标准单元库的放置排列

摘要

A method for validating standard cells stored in a standard cell library and for use in design of an integrated circuit device is described. Each standard cell of the standard cells is iteratively placed adjacent to each side and corner of itself and each other standard cell of the standard cells to produce an interim test layout comprising a first plurality of cell pair permutations. The cell pair permutations are reduced by identifying at least one of: illegal or redundant left-right and top-bottom boundaries, and removing any cell pair permutations using the identified boundaries to generate a final test layout comprising a second plurality of cell pair permutations.
机译:描述了一种用于验证存储在标准单元库中的标准单元并用于集成电路器件设计的方法。将标准单元的每个标准单元迭代地放置在其自身的每个侧面和角落以及标准单元的每个其他标准单元附近,以产生包括第一组多个单元对置换的临时测试布局。通过标识非法或冗余的左右边界和上下边界中的至少一个,并使用所标识的边界去除任何单元对排列以生成包括第二多个单元对排列的最终测试布局,来减少单元对排列。

著录项

  • 公开/公告号US8775999B2

    专利类型

  • 公开/公告日2014-07-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ADVANCED MICRO DEVICES INC.;

    申请/专利号US201213672565

  • 发明设计人 JUANG-YING CHUEH;CHARLES TUNG;

    申请日2012-11-08

  • 分类号G06F17/50;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 16:00:16

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