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PROBE CARD-SECURING DEVICE, PROBE INSPECTION DEVICE, PROBE INSPECTION METHOD, AND PROBE CARD

机译:探针卡保护装置,探针检查装置,探针检查方法以及探针卡

摘要

due to the thermal expansion of the probe card and the card holder to suppress the variation of the position of the probe tip caused a probe card fixture , probe inspection apparatus , inspection method provides a probe and a probe card to be . The probe card probe card retainer for securing (10 ) to the prober , the connection ring for fixing to the housing of the prober 30 and , fitting the outer peripheral portion of the connection ring 30 and between the probe card 10 and a card holder 20 for holding , and a PCLS (50) for fixing the central portion and the connection ring 30 of the probe card (10). ;
机译:由于探针卡和卡座的热膨胀抑制了探针尖端位置的变化而引起探针卡的固定,探针检查装置,检查方法提供了探针和探针卡来进行。探针卡探针卡保持器,用于将探针固定(10),探针环固定在探针器30的壳体上,并且将连接环安装在探针环10的卡口20和卡保持器20之间,并且将连接环30的外周部安装在探针卡10和卡保持器20之间。用于固定的PCLS(50)和用于固定探针卡(10)的中心部分和连接环30的PCLS(50)。 ;

著录项

  • 公开/公告号KR20140054380A

    专利类型

  • 公开/公告日2014-05-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ASAHI KASEI MICRODEVICES CORPORATION;

    申请/专利号KR20147008159

  • 发明设计人 YAMAZAKI TOSHIHIKO;

    申请日2013-06-20

  • 分类号G01R1/073;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 15:43:06

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