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ANGLE CALIBRATION FOR GRAZING-INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE (GIXRF)

机译:掠入射X射线荧光(GIXRF)的角度校准

摘要

A method includes directing an X-ray beam to be incident at a grazing angle on a location on a surface of the sample. An X-ray fluorescence excited at the location is measured. A reflection angle of the X-ray beam from the surface and a transmission angle of the X-ray beam are measured. An angle of incidence of the X-ray beam on the surface is evaluated using the measured reflection and transmission angles, and the measured X-ray fluorescence is analyzed using the evaluated angle of incidence.
机译:一种方法包括将X射线束以掠角入射在样品表面上的位置上。测量在该位置激发的X射线荧光。测量来自表面的X射线束的反射角和X射线束的透射角。使用测量的反射角和透射角评估X射线束在表面上的入射角,并使用评估的入射角分析测量的X射线荧光。

著录项

  • 公开/公告号US2015204806A1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-07-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD.;

    申请/专利号US201414555613

  • 发明设计人 ISAAC MAZOR;ASHER PELED;

    申请日2014-11-27

  • 分类号G01N23/223;G01N23/207;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:25:25

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