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ANGLE CALIBRATION FOR GRAZING-INCIDENCE X-RAY FLUORESCENCE (GIXRF)

机译:掠入射X射线荧光(GIXRF)的角度校准

摘要

Angle calibration comprises the step of orienting x-ray beam to be incident on a position on a surface of a sample in a grazing angle. An x-ray fluorescence excited on the position is measured. A reflected angle of the x-ray beam and a transmitted angle of the x-ray beam from the surface are measured. A incident angle of the x-ray on the surface is judged by using the measured reflected angle and the transmitted angle, and the measured x-ray fluorescence is analyzed by using the judged incident angle.
机译:角度校准包括以下步骤:将X射线束定向为以掠射角入射在样品表面的位置上。测量在该位置激发的X射线荧光。测量x射线束的反射角和x射线束从表面的透射角。通过使用所测量的反射角和透射角来判断x射线在表面上的入射角,并且通过使用所判断的入射角来分析所测量的x射线荧光。

著录项

  • 公开/公告号KR20150087125A

    专利类型

  • 公开/公告日2015-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 JORDAN VALLEY SEMICONDUCTORS LTD.;

    申请/专利号KR20150009078

  • 发明设计人 MAZOR ISAAC;PELED ASHER;

    申请日2015-01-20

  • 分类号G01N23/223;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:59:30

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