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Determining, calibrating, and exporting K-factors and bend allowance

机译:确定,校准和导出K因子和弯曲余量

摘要

The present disclosure is directed to systems and methods for determining and calibrating a K-factor for material and to methods and systems for calibrating forming devices, forming device controls, and/or forming device components. The disclosed systems and methods can dynamically provide exact and calibrated values for the parameters needed to produce correct and accurate flat patterns based on any type of material or any tooling combination. As such, the systems and methods of the present disclosure can be used to achieve a first run perfect or near-perfect part capability that does not currently exist.
机译:本公开内容涉及用于确定和校准材料的K因子的系统和方法,并且涉及用于校准成形装置,成形装置控件和/或成形装置部件的方法和系统。所公开的系统和方法可以基于任何类型的材料或任何工具组合动态地提供用于产生正确和准确的平坦图案所需的参数的精确和校准值。这样,本公开的系统和方法可以用于实现当前不存在的首次运行的完美或接近完美的零件能力。

著录项

  • 公开/公告号US9108237B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ROBERT MACAULAY;

    申请/专利号US201414228696

  • 发明设计人 ROBERT MACAULAY;

    申请日2014-03-28

  • 分类号B21D5/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:22:29

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