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MEMS device with improved charge elimination and methods of producing same

机译:具有改善的电荷消除的MEMS装置及其制造方法

摘要

A method for producing a MEMS device having improved charge elimination characteristics includes providing a substrate having one or more layers, and applying a first charge elimination layer onto at least one portion of one given layer of the substrate. The method may then (1) apply a sacrificial layer onto the first charge elimination layer, (2) apply a second charge elimination layer onto at least a portion of the sacrificial layer, and (3) deposit a movable layer onto at least a portion of the second charge elimination layer. To form a structure within the movable layer the method may etch the movable layer. The method may then etch the sacrificial layer to release the structure.
机译:一种用于制造具有改善的电荷消除特性的MEMS器件的方法,包括提供具有一层或多层的衬底,以及将第一电荷消除层施加到衬底的一个给定层的至少一部分上。该方法然后可以(1)在第一电荷消除层上施加牺牲层,(2)在牺牲层的至少一部分上施加第二电荷消除层,(3)在至少一部分上沉积可移动层。第二电荷消除层。为了在可移动层内形成结构,该方法可以蚀刻可移动层。该方法然后可以蚀刻牺牲层以释放结构。

著录项

  • 公开/公告号US9029179B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-05-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FANG LIU;KUANG L. YANG;

    申请/专利号US201213535781

  • 发明设计人 FANG LIU;KUANG L. YANG;

    申请日2012-06-28

  • 分类号H01L21/02;B81B3/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:21:52

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