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Layout structure of standard cell, standard cell library, and layout structure of semiconductor integrated circuit

机译:标准单元的布局结构,标准单元库以及半导体集成电路的布局结构

摘要

In a layout structure of a standard cell including off transistors 126, 127 unnecessary for logic operation of a circuit, dummy via contacts 116, 117 are disposed on impurity diffusion regions 103, 106 of the off transistors 126, 127, respectively. Dummy metal interconnects 122, 123 are connected to the dummy via contacts 116, 117, respectively. Thus, variations in the density of via contacts, which are one of causes lowering the production yield of semiconductor integrated circuits, is reduced, improving manufacturing defects of the via contacts.
机译:在包括用于电路的逻辑操作所不需要的截止晶体管 126、127 的标准单元的布局结构中,伪通孔触点 116、117 设置在杂质扩散区域 126、127 中分别> 103、106 。虚拟金属互连 122、123 分别通过触点 116、117 连接到虚设。因此,减少了通孔触点的密度变化,这是降低半导体集成电路的生产率的原因之一,改善了通孔触点的制造缺陷。

著录项

  • 公开/公告号US9147652B2

    专利类型

  • 公开/公告日2015-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 PANASONIC CORPORATION;

    申请/专利号US201414281662

  • 申请日2014-05-19

  • 分类号H01L27/118;H01L23/498;H01L27/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 15:19:30

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