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DETERMINING THE AVERAGE NUMBER OF LOCALIZATIONS PER EMITTER AND THE AVERAGE NUMBER OF EMITTERS ASSOCIATED WITH ONE SITE IN LOCALIZATION MICROSCOPY.

机译：确定本地化显微镜下每个发射器的平均位置数和与一个站点关联的发射辐射的平均数。

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公开/公告号NL2012169C

专利类型
公开/公告日2015-08-06

原文格式PDF
申请/专利权人 TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT;STICHTING VOOR DE TECHNISCHE WETENSCHAPPEN;
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申请/专利号NL20142012169
发明设计人 NIEUWENHUIZEN ROBERT PIETER JOACHIM;RIEGER BERND;STALLINGA SJOERD;
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申请日2014-01-30
分类号G01N21/64;G02B21/16;G02B21/36;G02B27/58;G06T3/40;
国家 NL
入库时间 2022-08-21 15:13:40

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