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Re-Sampling S-Parameters for Serial Data Link Analysis

机译:重新采样S参数以进行串行数据链路分析

摘要

A device and method of re-sampling a plurality of S-parameters for serial data link analysis is dislosed. The method includes storing a plurality of S-parameters sets, each S-parameter set being associated with a subsystem and having associated impulse responses and a time interval. An increased time interval is determine based on the time interval associated with each S-parameter set. The impulse responses are zero filled in each S-parameter set to maintain any wrapped ripples and increase the time interval. A plurality of resampled S-parameter sets are generated with a finger frequency resolution to cover the increased time interval.
机译:公开了一种重新采样多个S参数以进行串行数据链路分析的设备和方法。该方法包括存储多个S参数集,每个S参数集与子系统相关联并且具有相关的脉冲响应和时间间隔。基于与每个S参数集关联的时间间隔来确定增加的时间间隔。脉冲响应在每个S参数集中填充为零,以保持任何包绕的波纹并增加时间间隔。以手指频率分辨率生成多个重新采样的S参数集,以覆盖增加的时间间隔。

著录项

  • 公开/公告号EP2680452B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEKTRONIX INC;

    申请/专利号EP20130172503

  • 发明设计人 PICKERD JOHN J;TAN KAN;

    申请日2013-06-18

  • 分类号H04B3/46;G01R27/28;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 15:06:28

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