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H2O The method for etching of magnetic thin films using H2O gas

机译:H2O使用H2O气体蚀刻磁性薄膜的方法

摘要

The present invention relates to a method for patterning a magnetic thin film with a mask and masking the same (step 1); 10 to 50% by volume of H 2 O gas, and 50 to 90% by volume of an alkane-based gas into a plasma (step 2); And etching the magnetic thin film masked in step 1 using the plasma generated in step 2 (step 3). The method of etching a magnetic thin film using H 2 O gas according to the present invention is a new method of etching by using H 2 O gas which is not corrosive and very inexpensive and is environment friendly compared with the conventional etching method, The etching rate and the high anisotropic etching profile can be applied to all devices and devices in which the magnetic thin film is used, and are particularly effective in forming fine patterns.
机译:本发明涉及一种用掩模对磁性薄膜进行构图并对其进行掩模的方法(步骤1)。进入等离子体的H 2 气体的体积百分比为10%至5​​0%,基于烷烃的气体的百分比为50%至90%(步骤2);然后使用在步骤2中生成的等离子体蚀刻在步骤1中掩盖的磁性薄膜(步骤3)。根据本发明的使用H 2 O气体蚀刻磁性薄膜的方法是一种使用H 2 O气体进行蚀刻的新方法,该气体不具有腐蚀性并且非常易腐蚀。与常规的蚀刻方法相比,该方法便宜且环境友好。蚀刻速率和高各向异性蚀刻轮廓可应用于所有使用磁性薄膜的器件和器件,并且在形成精细图案方面特别有效。

著录项

  • 公开/公告号KR101548232B1

    专利类型

  • 公开/公告日2015-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 인하대학교 산학협력단;

    申请/专利号KR20130108950

  • 发明设计人 정지원;이일훈;

    申请日2013-09-11

  • 分类号H01L21/3065;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-21 14:57:46

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