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CALIBRATION OF A TIME-INTERLEAVED ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER (ADC) CIRCUIT

机译:时间交错的模拟数字转换器(ADC)电路的校准

摘要

Examples are provided for a method and apparatus for calibration of an analog-to-digital converter (ADC). The method includes selecting a reference sub-ADC from multiple sub-ADCs. A calibration signal is sent to an input node of each sub-ADC of the sub-ADCs. For each sub-ADC, other than the reference sub-ADC, a corresponding error signal is generated based on output signals of the sub-ADC and the reference sub-ADC. Each sub-ADC is calibrated based on the corresponding error signal. The ADC may be a time-interleaved ADC that includes the plurality of sub-ADCs, and the reference sub-ADC has a lowest relative offset among the sub-ADCs.
机译:提供了用于校准模数转换器(ADC)的方法和设备的示例。该方法包括从多个子ADC中选择参考子ADC。校准信号被发送到子ADC的每个子ADC的输入节点。对于除了参考子ADC之外的每个子ADC,基于子ADC和参考子ADC的输出信号生成相应的误差信号。每个子ADC均根据相应的误差信号进行校准。 ADC可以是包括多个子ADC的时间交错ADC,并且参考子ADC在子ADC中具有最低的相对偏移。

著录项

  • 公开/公告号EP3001568A2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SEMTECH CORPORATION;

    申请/专利号EP20150183506

  • 发明设计人 DSOUZA SANDEEP LOUIS;DYER KENNETH COLIN;

    申请日2015-09-02

  • 分类号H03M1/10;H03M1/12;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:48:08

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