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DEBUG CIRCUIT, DEBUGGER DEVICE, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND DEBUG METHOD

机译:调试电路,调试器设备,半导体设备和调试方法

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve debug work efficiency.SOLUTION: A storage section 2a stores a first code value which is calculated by a coding system where a value changes in response to a signal sequence in a circuit 3 to be debugged, and indicates a stop condition of the circuit 3. A code value calculation section 2c calculates a second code value by the coding system, every time a signal in the circuit 3 changes, on the basis of the signal. An operation stop section 2d stops operation of the circuit 3 when the first code value coincides with the second code value.SELECTED DRAWING: Figure 1
机译:解决的问题:为了提高调试工作效率。解决方案:存储部分2a存储由编码系统计算的第一代码值,其中该值响应于要调试的电路3中的信号序列而改变,并指示电路3的停止状态。代码值计算部分2c每当电路3中的信号改变时,由编码系统根据该信号计算第二代码值。当第一代码值与第二代码值一致时,操作停止部分2d停止电路3的操作。

著录项

  • 公开/公告号JP2016045676A

    专利类型

  • 公开/公告日2016-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FUJITSU LTD;

    申请/专利号JP20140169042

  • 发明设计人 TAMIYA YUTAKA;

    申请日2014-08-22

  • 分类号G06F11/22;G06F11/28;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 14:43:42

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