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Graded aluminum—gallium—nitride and superlattice buffer layer for III-V nitride layer on silicon substrate

机译:硅基板上用于III-V氮化物层的渐变铝-镓-氮化物和超晶格缓冲层

摘要

The present disclosure is directed to an integrated circuit and a method for the fabrication of the integrated circuit. The integrated circuit includes a lattice matching structure. The lattice matching structure can include a first buffer region, a second buffer region and a superlattice structure formed from AlxGa1-xN/AlyGa1-yN layer pairs.
机译:本公开针对一种集成电路和一种用于制造集成电路的方法。该集成电路包括晶格匹配结构。晶格匹配结构可以包括第一缓冲区域,第二缓冲区域和由Al x Ga 1-x N / Al y 形成的超晶格结构。 Sub> Ga 1-y N个层对。

著录项

  • 公开/公告号US9233844B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-01-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 CHI-MING CHEN;PO-CHUN LIU;CHUNG-YI YU;

    申请/专利号US201213534368

  • 发明设计人 PO-CHUN LIU;CHUNG-YI YU;CHI-MING CHEN;

    申请日2012-06-27

  • 分类号H01L31/00;B82Y10/00;B82Y40/00;H01L21/02;H01L29/10;H01L29/20;H01L29/66;H01L29/778;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:31:37

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