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Integrated circuit chip tester with embedded micro link

机译:具有嵌入式微链接的集成电路芯片测试仪

摘要

A contact for testing an integrated circuit includes a contact body with multiple embedded links within the body having at least two axes of rotation. The contact body is hollow with cavities that house tubular resilient members to bias the embedded links in a first preferred orientation and position.
机译:用于测试集成电路的接触器包括接触体,该接触体在该体内具有多个至少两个旋转轴的多个嵌入式链接。接触体是中空的,具有容纳管状弹性构件的空腔,以将嵌入的链节偏压在第一优选的取向和位置。

著录项

  • 公开/公告号US9343830B1

    专利类型

  • 公开/公告日2016-05-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 XCERRA CORPORATION;

    申请/专利号US201514733314

  • 发明设计人 VICTOR LANDA;

    申请日2015-06-08

  • 分类号H01R12/71;H01R4/48;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:31:33

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