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Combining ZTCR resistor with laser anneal for high performance PMOS transistor

机译:将ZTCR电阻器与激光退火相结合以形成高性能PMOS晶体管

摘要

An integrated circuit containing a PMOS transistor may be formed by implanting boron in the p-channel source drain (PSD) implant step at a dose consistent with effective channel length control, annealing the PSD implant, and subsequently concurrently implanting boron into a polysilicon resistor with a zero temperature coefficient of resistance using an implant mask which also exposes the PMOS transistor, followed by a millisecond anneal.
机译:可以通过以下方式形成包含PMOS晶体管的集成电路:以与有效沟道长度控制相一致的剂量将硼注入到p沟道源极漏极(PSD)注入步骤中,退火PSD注入,然后同时将硼注入到多晶硅电阻中。使用也暴露PMOS晶体管的注入掩模将电阻温度系数设为零,然后进行毫秒退火。

著录项

  • 公开/公告号US9455252B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-09-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED;

    申请/专利号US201514875274

  • 发明设计人 MAHALINGAM NANDAKUMAR;

    申请日2015-10-05

  • 分类号H01L21/425;H01L27/07;H01L21/265;H01L21/8234;H01L27/06;H01L21/225;H01L21/8238;H01L49/02;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:30:26

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