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Tilt mode accelerometer with improved offset and noise performance

机译:倾斜模式加速度计,具有改善的失调和噪声性能

摘要

A single-axis tilt-mode microelectromechanical accelerometer structure. The structure includes a substrate having a top surface defined by a first end and a second end. Coupled to the substrate is a first asymmetrically-shaped mass suspended above the substrate pivotable about a first pivot point on the substrate between the first end and the second end and a second asymmetrically-shaped mass suspended above the substrate pivotable about a second pivot point on the substrate between the first end and the second end. The structure also includes a first set of electrodes positioned on the substrate and below the first asymmetrically-shaped mass and a second set of electrodes positioned on the substrate and below the second asymmetrically-shaped mass.
机译:单轴倾斜模式微机电加速度计结构。该结构包括基板,该基板具有由第一端和第二端限定的顶表面。耦合到基板的是第一非对称形状的块,其悬挂在可绕基板的第一端和第二端之间的第一枢轴点旋转的基板上方,以及第二非对称形状的块体,其悬挂在可旋转基板上,可围绕第二枢轴点旋转的第二非对称形状。在第一端和第二端之间的基板。该结构还包括位于电极上且在第一不对称形状的块下方的第一组电极和位于基板上且在第二不对称形状的块下方的第二组电极。

著录项

  • 公开/公告号US9297825B2

    专利类型

  • 公开/公告日2016-03-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ANALOG DEVICES INC.;

    申请/专利号US201313785624

  • 申请日2013-03-05

  • 分类号G01P15/125;G01P15/08;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 14:29:19

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