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Retarding field analyzer integral with particle beam column

机译:粒子束柱集成的缓场分析仪

摘要

A retarding field analyzer uses the existing components of a charged particle beam system eliminating the need for inserting a separate retarding field analyzer device. In a method of analyzing the energy of a charged particle beam, a retarding field through which the beam (114) passes is provided by applying a voltage to the element (116B) of the electrostatic focusing lens (116) retarding the beam, and the retarding field is incrementally increased by incrementally changing this voltage to alter the number of charged particles that pass through the electrostatic lens. Using components of the existing column reduces the time required to analyze the beam. Using the imaging capabilities of the existing column facilitates alignment of the beam with the analyzer.
机译:延迟场分析仪使用带电粒子束系统的现有组件,因此无需插入单独的延迟场分析仪设备。在分析带电粒子束的能量的方法中,通过向静电聚焦透镜(116)的元件(116B)施加电压以使束(114)通过,从而提供束(114)通过的延迟场,并且通过递增地改变该电压以改变穿过静电透镜的带电粒子的数量,可以逐渐增加延迟场。使用现有色谱柱的组件可以减少分析光束所需的时间。利用现有色谱柱的成像功能,可以使光束与分析仪对准。

著录项

  • 公开/公告号EP2725602B1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-07-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 FEI CO;

    申请/专利号EP20130189977

  • 发明设计人 OTIS CHARLES;MCGINN JAMES;TUGGLE DAVID;

    申请日2013-10-24

  • 分类号H01J37/244;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:07:19

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