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CONTACT-TYPE POSITION MEASUREMENT DEVICE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME

机译:接触式位置测量装置和使用该方法的测量方法

摘要

[Object];To provide a contact-type position measuring device which prevents an increase in cost and a deterioration of workability, and improves the measuring accuracy of a chamfered hole.; [Means to solve the problems] ;A contact-type position measuring device 7 is configured by a straight hole diameter measuring probe 12 measuring a diameter of straight hole D1 by moving in a radius direction and contacting to an internal peripheral surface of a straight hole W1, which extends to an axis direction; and a chamfered hole diameter measuring probe 13 measuring a diameter of chamfered hole D2 by moving in the axis direction and contacting to an internal peripheral surface of a chamfered hole W2.
机译:本发明的目的是提供一种接触式位置测量装置,该接触式位置测量装置防止了成本的增加和可加工性的降低,并且改善了倒角孔的测量精度。 [解决问题的方法] 接触式位置测量装置7由直孔直径测量探头12构成,该直孔直径测量探头12通过沿半径方向移动并接触延伸至轴线的直孔W1的内周表面来测量直孔D1的直径。方向;倒角孔直径测量探头13通过沿轴线方向移动并与倒角孔W2的内周面接触来测量倒角孔D2的直径。

著录项

  • 公开/公告号EP3236195A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DMG MORI CO. LTD.;

    申请/专利号EP20150869784

  • 发明设计人 SATO KOJI;

    申请日2015-12-01

  • 分类号G01B5/12;B23Q17/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 14:04:17

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