首页> 外国专利> Chemical mechanical polishing method using the chemical mechanical polishing slurry, and the slurry

Chemical mechanical polishing method using the chemical mechanical polishing slurry, and the slurry

机译:使用化学机械抛光浆料的化学机械抛光方法,以及该浆料

摘要

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide: a slurry for chemical mechanical polishing, excellent in performance for flattening a film to be polished and ability for removing an excessive insulating film, specifically the slurry being suitable for eliminating level difference formed between an insulating film formed of silicon oxide or the like and a stop film formed of silicon nitride or the like, in a shallow groove element separation process; and a chemical mechanical polishing method using the slurry.SOLUTION: A slurry for chemical mechanical polishing contains: an abrasive grain (a); a water soluble polyurethane (b) having both of a carboxyl group and a polyoxyethylene group having 4 or more repeating units; and water.
机译:解决的问题:提供:用于化学机械抛光的浆料,在使待抛光的膜平坦化方面具有优异的性能,并且具有去除过多的绝缘膜的能力,特别是该浆料适合于消除由形成的绝缘膜之间形成的水平差。在浅槽元件分离工艺中,氧化硅等和由氮化硅等形成的停止膜;解决方案:用于化学机械抛光的浆料包含:磨料(a);具有羧基和具有4个以上重复单元的聚氧乙烯基的水溶性聚氨酯(b);和水。

著录项

  • 公开/公告号JP6101552B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-03-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社クラレ;

    申请/专利号JP20130095448

  • 发明设计人 加藤 充;岡本 知大;加藤 晋哉;

    申请日2013-04-30

  • 分类号H01L21/304;B24B37/00;C09K3/14;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:56:05

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号