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HYBRID INTEGRATION FABRICATION OF NANOWIRE GATE-ALL-AROUND GE PFET AND POLYGONAL III-V PFET CMOS DEVICE

机译:纳米线全栅极GE PFET和多边形III-V PFET CMOS器件的混合集成制造

摘要

The present invention provides a method of manufacturing nanowire semiconductor device. In the active region of the PMOS the first nanowire is formed with high hole mobility and in the active region of the NMOS the second nanowire is formed with high electron mobility to achieve the objective of improving the performance of nanowire semiconductor device.
机译:本发明提供一种制造纳米线半导体器件的方法。在PMOS的有源区域中,第一纳米线以高的空穴迁移率形成,并且在NMOS的有源区域中,第二纳米线以高的电子迁移率形成,以达到提高纳米线半导体器件性能的目的。

著录项

  • 公开/公告号US2017271211A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-09-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ZING SEMICONDUCTOR CORPORATION;

    申请/专利号US201715491989

  • 发明设计人 DEYUAN XIAO;

    申请日2017-04-20

  • 分类号H01L21/8238;H01L29/06;H01L21/02;H01L29/786;H01L29/51;H01L29/49;H01L27/092;H01L29/423;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:52:17

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