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Method for calibrating a laser deflection apparatus of a laser microdissection system and laser microdissection system

机译:激光显微切割系统的激光偏转装置的校准方法和激光显微切割系统

摘要

A method for calibrating a laser deflection device in a reflected light device of a microscope of a laser microdissection system having a digital image capturing unit comprising an image evaluation module includes generating a laser beam; guiding the laser beam through a microscope objective; directing the laser beam to a position defined by actuation signals; placing a calibration object in the object plane of the microscope objective; actuating the laser deflection device using first actuation signals and first calibration values, making at least one calibration mark on the calibration object; capturing an image of the calibration object by the digital image capturing unit; determining actual position values for the at least one calibration mark: and determining second calibration values based on a relationship between the default position values and the actual position values.
机译:一种用于校准激光显微解剖系统的显微镜的反射光装置中的激光偏转装置的方法,该激光显微解剖系统具有数字图像捕获单元,该数字图像捕获单元包括图像评估模块。引导激光束穿过显微镜物镜;将激光束引导到致动信号定义的位置;将校准物体放置在显微镜物镜的物平面中;使用第一致动信号和第一校准值来致动激光偏转装置,从而在校准对象上形成至少一个校准标记;通过数字图像捕获单元捕获校准对象的图像;确定至少一个校准标记的实际位置值;以及基于默认位置值和实际位置值之间的关系来确定第二校准值。

著录项

  • 公开/公告号US9759551B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-09-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH;

    申请/专利号US201414913385

  • 发明设计人 QING TANG;FALK SCHLAUDRAFF;

    申请日2014-08-22

  • 分类号G01B11/14;G02B21/32;G01N33/483;G06T7/00;G01N1/28;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:48:46

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