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Photo mask including pre-alignment keys and photolithography apparatus performing a pre-alignment process for the photo mask

机译:包括预对准键的光掩模和对光掩模执行预对准过程的光刻设备

摘要

A photo mask includes a pre-alignment key used in a pre-alignment process performed in a photolithography apparatus. The pre-alignment key includes a pre-alignment pattern including a light transmitting area and a light blocking area surrounding the pre-alignment pattern. The light blocking area includes a plurality of light blocking patterns and a diffraction grating pattern separating the plurality of light blocking patterns from each other.
机译:光掩模包括在光刻设备中执行的预对准处理中使用的预对准键。该预对准键包括预对准图案,该预对准图案包括围绕该预对准图案的透光区域和遮光区域。遮光区域包括多个遮光图案和将多个遮光图案彼此分离的衍射光栅图案。

著录项

  • 公开/公告号US9599887B2

    专利类型

  • 公开/公告日2017-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 SK HYNIX INC.;

    申请/专利号US201514850835

  • 发明设计人 BYUNG HO NAM;

    申请日2015-09-10

  • 分类号G03F1/42;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:43:50

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