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Resistance calibration method and related calibration system

机译:电阻校准方法及相关校准系统

摘要

A resistance calibration method for a first resistor of a first module includes performing resistance calibration on a calibration unit of a second module, wherein the first module is connected to the second module via a pad coupled to the first resistor and the calibration unit is coupled to the pad; obtaining a resistance value of the calibration unit after the resistance calibration; and calibrating a resistance value of the first resistor according to the resistance value of the calibration unit.
机译:用于第一模块的第一电阻器的电阻校准方法包括:对第二模块的校准单元执行电阻校准,其中,第一模块通过耦合到第一电阻器的焊盘连接到第二模块,并且校准单元耦合到垫电阻校准后,获取校准单元的电阻值;根据所述校准单元的电阻值校准所述第一电阻的电阻值。

著录项

  • 公开/公告号US9608632B1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-03-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NOVATEK MICROELECTRONICS CORP.;

    申请/专利号US201514854032

  • 发明设计人 CHIEN-HSI LEE;YAO-CHENG CHUANG;

    申请日2015-09-14

  • 分类号H03K19/003;H03K19/00;G11C7/10;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-21 13:42:12

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