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机译:检测微小颗粒的机器
公开/公告号SG10201510776SA
专利类型
公开/公告日2017-07-28
原文格式PDF
申请/专利权人 MING-SHENG CHEN;
申请/专利号SG10201510776S
发明设计人 MING-SHENG CHEN;
申请日2015-12-30
分类号
国家 SG
入库时间 2022-08-21 13:36:06
机译: 检测微小颗粒的机器
机译: 待加工零件的加工过程,延长加工过程中集成件寿命的过程。该设备适用于加工带有切削刃的集成件的待加工零件。与集成件一起使用的设备从要加工的工件中去除材料,使其成为微小的颗粒,然后aparelhho加工要加工的工件
机译: 用于检测电离颗粒的微机械电子倍增器,用于检测电离颗粒的系统和用于生产所述装置的方法