首页> 外国专利> TEST CHAMBER AND METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF TEST MATERIAL IN A TEST CHAMBER

TEST CHAMBER AND METHOD FOR MEASURING THE TEMPERATURE OF TEST MATERIAL IN A TEST CHAMBER

机译:测试室和测试室中测试材料温度的测量方法

摘要

The invention relates to a method for measuring the temperature of test material in a test chamber, in particular climatic chamber, wherein in a test chamber of the test chamber Prüfgut (40) and tempered in a test period (37) in the test room, wherein in the test period by means of a thermal imaging camera of pixels (41 ), wherein the image data sets are processed by means of an evaluation device, wherein the image data sets are assigned time values (38) within the test period, wherein each time value at least one pixel of an image data set a temperature value is assigned, such that a temperature measurement of a surface point (42) of the test material represented by the pixel takes place by means of the thermal imaging camera.
机译:本发明涉及一种用于在测试室,特别是气候室中测量测试材料的温度的方法,其中在测试室Prüfgut(40)的测试室中并在测试室中的测试时段(37)中进行回火,其中,在测试周期中通过像素的热像仪(41),其中图像数据集通过评估设备进行处理,其中在测试周期内为图像数据集分配时间值(38),其中每个时间值分配一个图像数据集的至少一个像素一个温度值,从而通过热像仪对由该像素代表的测试材料的表面点(42)进行温度测量。

著录项

  • 公开/公告号EP3244186A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-11-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 WEISS UMWELTTECHNIK GMBH;

    申请/专利号EP20160169036

  • 发明设计人 SCHLOSSER VOLKER;

    申请日2016-05-10

  • 分类号G01M99;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 13:15:47

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号