首页> 外国专利> WAFER BOW REDUCTION IN COMPOSITE WAFER COMPRISING A SILICON WAFER AND A SILICON CARBIDE EPITAXIAL LAYER

WAFER BOW REDUCTION IN COMPOSITE WAFER COMPRISING A SILICON WAFER AND A SILICON CARBIDE EPITAXIAL LAYER

机译:包含硅晶片和碳化硅外延层的复合晶片中的晶片弓减少

摘要

We describe a method for reducing bow in a composite wafer comprising a silicon wafer and a silicon carbide layer grown on the silicon wafer. The method includes applying nitrogen atoms during the growth process of the silicon carbide layer on the silicon wafer so as to generate a compressive stress within the composite wafer.
机译:我们描述了一种用于减少包括硅晶片和在硅晶片上生长的碳化硅层的复合晶片中的弯曲的方法。该方法包括在硅晶片上的碳化硅层的生长过程中施加氮原子,以在复合晶片内产生压缩应力。

著录项

  • 公开/公告号EP3245667A1

    专利类型

  • 公开/公告日2017-11-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 ANVIL SEMICONDUCTORS LIMITED;

    申请/专利号EP20150817533

  • 发明设计人 WARD PETER;

    申请日2015-12-23

  • 分类号H01L21/20;

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 13:15:29

相似文献

  • 专利
  • 外文文献
  • 中文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号