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Calculation method of best solution, calculation method of dominant solution for powder diffraction pattern, and program thereof

机译:最佳解决方案的计算方法,粉末衍射图样的主导解决方案的计算方法及其程序

摘要

A method for calculating a calculation parameter with high accuracy from an observed diffraction pattern of a powder sample is provided. A method for calculating the best solution of calculation parameters in an observed diffraction pattern used for crystal structure analysis of a powder sample, a third convergence value calculation step 600 for calculating at least three convergence values, respectively, A fitness is calculated using the peak position shift parameter among at least three convergence values, and a third best solution determination step 700 for determining whether or not the solution is a true solution, and each of the obtained goodness of fit are obtained. And a first global solution calculation step 800 for calculating a global solution that is a true solution. [Selection] Figure 1
机译:提供了一种用于从粉末样品的观察到的衍射图案高精度地计算计算参数的方法。用于在粉末样品的晶体结构分析中使用的观察到的衍射图中计算计算参数的最佳解的方法,分别用于计算至少三个收敛值的第三收敛值计算步骤600,使用峰位置计算适应度在至少三个收敛值之间移动参数,以及用于确定解是否为真解的第三最佳解确定步骤700,并且获得每个获得的拟合优度。第一全局解计算步骤800用于计算作为真实解的全局解。 [选择]图1

著录项

  • 公开/公告号JP6269886B1

    专利类型

  • 公开/公告日2018-01-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社フィゾニット;

    申请/专利号JP20170110500

  • 发明设计人 坪田 雅己;

    申请日2017-06-02

  • 分类号G01N23/207;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-21 13:07:29

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